應用:基于 (i-PDeA)功能的未分離雜質檢測

  Detection of Non-Separated Impurities by i-PdeA     在試錯用到主成份化學發光法或提純的脫離水平之始，都要注重能信賴地脫離鈣鎂離子殘渣成份。只不過備樣中雖然存在的是沒辦法分析預測的鈣鎂離子殘渣或偏鋁酸根成份。為證明鈣鎂離子殘渣或偏鋁酸根成份，光電電子元器件大家庭中的一員-整流二極管陣列探測器是高效的伎倆。而Intelligent Peak Deconvolution Analysis (i-PDeA) 充分利用光電電子元器件大家庭中的一員-整流二極管陣列探測器換取的UV 譜圖，可在微分譜圖進行除主成份，僅將鈣鎂離子殘渣交互式，與往年的峰溶解度法好于，能能信賴地探測鈣鎂離子殘渣，快速成功完成份離水平的最優投資組合化。     本篇文章解紹選用島津高敏感度光電技術場效應管陣列測量器SPD-M30A，使用i-PDeA基本功能測量未剝離 其它雜物的樣例。 M. Kawashima

Fig. 1　未與主成分分離的狀態下洗脫的雜質的色譜圖
Chromatogram of Main Component with Unseparated Impurity

■ 基于i-PDeA 的峰分離流程
Procedure for Separating Peaks Using

    i-PDeA 將在光電技術電子元器件大家庭中的一員-二極管陣列監測器的主化學有效含量UV 譜圖的較大或很小主可見光波長上微分其UV 譜圖后的值，當做色譜圖使用大數據可視化。主化學有效含量與其它雜物在未區分的階段下沖洗掉的色譜圖如Fig. 1 如圖所示。242.27 nm上具備主化學有效含量的較大UV譜圖，在255.91 nm具備很小UV譜圖(Fig. 2)，在進來一款主可見光波長上微分其ＵＶ譜圖的值經常為零(Fig. 3)。

Fig. 2　主成分的UV譜圖 UV Spectrum of Main Component

Fig. 3　主成分UV譜圖的一次微分  First Derivative of UV Spectrum of Main Component

    此為，動用在非常小光光光波長255.91 nm上微分ＵＶ譜圖后的值贏得了色譜圖。其最終結果如Fig. 4如圖是，能否看到一般的吸光度色譜圖上的主材料峰看不見，而鈣鎂離子的微占分不被零，由于，還可以得到了與含量相關聯的反應。最后，在LabSolutions的譜圖挑選上能否非常簡單地折算出UV 譜圖的一個微占分為零的光光光波長（即，甚微或非常小光光光波長）。且，立于UV譜圖微占分的色譜圖(Fig. 4) 還可以以與一般色譜圖雷同的實際操作，使用表現·波形參數進行辦理·統計資料等一類別的統計資料進行辦理。

Fig. 4　基于i-PDeA的去除主成分后的微分譜圖
Differential Chromatogram After Removal of the Main Component Peak Using i-PDeA

■ i-PDeA 的應用
Applications of i-PDeA

    用到i-PDeA 對甲基萘介紹中的沉渣溶合實施了驗證。在一般是的色譜圖上，即便是用到峰飽和度弧線，也根本無法清晰明確的判別出修改在峰前半一些中的沉渣，而在基本概念i-PDeA的微分色譜圖上，主營養成分甲基萘的峰不見，夠清晰明確的地大數據可視化沉渣峰。

Fig. 5　通常的色譜圖與純度曲線 Typical Chromatogram and Purity Curve

Fig. 6　基于i-PDeA的去除主成分后的色譜圖 Differential Chromatogram After Removal of the Main Component Peak Using i-PDeA